大塚电子 OTSUKA 显微膜厚计OPTM系列 OPTM-A3
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膜厚測定に必要な機能をヘッド部に集約！ 顕微分光で高精度な絶対反射率測定（多層膜厚、光学定数） 1ポイント1秒以内の高速測定 顕微下で広い測定波長範囲を実現する光学系（紫外～近赤外） エリアセンサーによる安全機構 初めての方でも光学定数解析が可能な楽々解析ウイザード 測定シーケンスをカスタマイズ可能なマクロ機能搭載 各種カスタマイズに対応 測定項目
絶対反射率測定 膜厚解析 光学定数解析（n：屈折率、ｋ：消衰係数）