大塚电子 OTSUKA 纤维光学颗粒分析仪 FPAR-1000
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特 長
希薄溶液から濃厚溶液まで、幅広い濃度範囲での高速・高精度な粒子径・粒子径分布（粒径・粒径分布）測定が可能です。 微粒子特有の分散・凝集過程をモニターする機能など、研究・品質管理の幅広い用途で使用可能です。 新開発の測定プローブにより、濃厚溶液での高精度な粒子径測定に対応しています。 サンプル温調、超音波洗浄など、必要な機能をすべて内蔵したA3サイズのコンパクト設計です。
測定項目
粒子径 3 nm ～ 5000nm 1 nm ～ 5000nm （高感度仕様） キュムラント平均粒子径
ヒストグラム平均粒子径（D 50 ）（高感度仕様） 分布解析 CONTIN法
MARQUARDT法
NNLS法
CUMULANT法
対応濃度範囲
（標準ラテックス
204nm の場合） 0.001 ～ 10 % 濃厚系プローブ（標準）
0.01 ～ 10 % 希薄系プローブ（オプション）
0.001 ～ 0.01 %
応用分野
色材工業における顔料・インクの分散・凝集制御・粒子径管理。 セラミックススラリーの分散・凝集制御、分散剤効果 半導体分野の研磨粒子の粒子径管理 高分子・化学工業におけるエマルジョン、ラテックスの分散凝集制御、粒子径管理 医薬品・食品エマルジョンの分散・凝集制御、リポソームなどの粒子径管理 光触媒（酸化チタン）粒子の分散状態管理 仕 様
光源 半導体レーザー 検出器 光電子増倍管（フォトンカウンティング方式） サンプル温調範囲 10 ～ 70℃ 温調方式 電子式冷却素子、ヒーター プローブ洗浄方式 超音波洗浄 電源 AC100V ± 10%50/60Hz 300VA 寸法（WDH） 320（W)×507（D)×284（H) 重量 約 22 kg