大塚电子 OTSUKA 分子量测量系统 ELSZ-2000ZS-日本TRUSCO（日本中山）日本中山代理深圳市艾音悦科技有限公司

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特　長
最新型高感度APDにより感度アップと測定時間短縮を実現 (NEW) 自動温度グラジエント測定により変性・相転移温度解析が可能 (NEW) 0～90℃の広い温度範囲で測定が可能 (NEW) 広範囲な分子量測定および解析機能を追加 (NEW) 懸濁した高濃度サンプルの粒子径・ゼータ電位測定に対応セル内の電気浸透流を実測、プロット解析により高精度なゼータ電位測定結果を提供高塩濃度溶液のゼータ電位測定に対応小面積サンプルの平板ゼータ電位測定に対応 (NEW)
測定項目
ゼータ電位 -200 ～ 200 mV 電気移動度 -20×10 -4 ～ 20×10 -4 cm 2 /V・s 粒子径 0.6 nm ～ 10000 nm 分子量 360 ～ 2000×10 4 ●測定範囲
測定温度範囲 0 ～ 90℃ 測定濃度範囲粒子径：0.00001 % （0.1ppm）～ 40 % *1
ゼータ電位：0.001%～40% *1（Latex112nm： 0.00001 ～ 10%、タウロコール酸：～ 40%）

用途
界面化学、無機物、半導体、高分子、生物、薬学、医学分野などにおいて、微粒子のみならず、フィルムや平板状試料の表面科学を取り扱う基礎研究、応用研究に最適です。
新規機能性材料分野
燃料電池関連（カーボンナノチューブ、フラーレン、機能性膜、触媒、ナノ金属）
バイオナノ関連（ナノカプセル、デンドリマー、DDS、バイオナノ粒子）、ナノバブルなど
セラミックス・色材工業分野
セラミックス（シリカ・アルミナ・酸化チタンなど）
無機ゾルの表面改質・分散・凝集制御
顔料（カーボンブラック・有機顔料）の分散・凝集制御
スラリー状サンプル
カラーフィルター
浮遊選鉱物の捕集材吸着の研究
半導体分野
シリコンウェハー表面への異物付着のメカニズム解明
研磨剤や添加剤とウェハー表面との相互作用の研究
CMPスラリー
高分子・化学工業分野
エマルション（塗料・接着剤）の分散・凝集制御、ラテックスの表面改質（医薬用・工業用）
高分子電解質（ポリスチレンスルフォネート・ポリカルボン酸など）の機能性の研究、機能性ナノ粒子
紙・パルプの製紙工程制御およびパルプ添加材の研究
医薬品・食品工業分野
エマルション（食品・香料・医療・化粧品）の分散・凝集制御、タンパク質の機能性
リポソーム・ベシクルの分散・凝集制御、界面活性剤（ミセル）の機能性粒子径測定原理：動的光散乱法（光子相関法）
溶液中の粒子は、粒子径に依存したブラウン運動をしているため、この粒子に光を照射した時に得られる散乱光は、小粒子は素速い揺らぎを、大粒子はゆっくりした揺らぎを示します。
この揺らぎを光子相関法で解析することにより粒子径や粒度分布が求められます。溶液中の粒子は、粒子径に依存したブラウン運動をしているため、この粒子に光を照射した時に得られる散乱光は、小粒子は素速い揺らぎを、大粒子はゆっくりした揺らぎを示します。
この揺らぎを光子相関法で解析することにより粒子径や粒度分布が求められます。

解析の流れ

ゼータ電位測定原理：電気泳動光散乱法（レーザードップラー法）
溶液中の粒子に電場をかけると、粒子が持つ電荷に応じた電気泳動が観測されるため、この電気泳動速度からゼータ電位・電気泳動移動度が求められます。電気泳動光散乱法では、電気泳動している粒子に光を照射し、得られる散乱光のドップラーシフト量から電気泳動速度を求めるため、レーザードップラー法とも呼ばれています。

電気浸透流実測のメリット
電気浸透流とは、ゼータ電位測定中セル内で起きる溶液の流れのことです。セル壁面が帯電していると溶液中の対イオンがセル壁面に集まります。電場がかかると対イオンは反対符号の電極側へ、セル中央付近はその流れを補うため逆の流れが生じる現象です。粒子の見かけの電気泳動移動度を実測し、電気浸透流を解析することで、試料の吸着や沈降などのセル汚れの影響を考慮した正しい静止面を求め、真のゼータ電位・電気泳動移動度が求められます。（森・岡本の式参照）
森・岡本の式
電気浸透流を考慮したセル内の泳動速度解析
U obs (z)=AU 0 (z/b) 2 +⊿U 0 (z/b)+(1-A)U 0 +U p
z:セル中心位置からの距離
Uobs(z):セル中の位置zにおける見かけの移動度
A=1/[(2/3)-(0.420166/k)]
k=a/b:2aと2bは電気泳動セル断面の横と縦の長さ．但し、a>b
Up:粒子の真の移動度
U0:セルの上下壁面における平均移動度
⊿U0:セルの上下壁面における移動度の差

電気浸透流の多成分解析への応用
ELSZシリーズではセル内の多点での見かけの電気泳動移動度を実測しているため、測定データ内でゼータ電位分布の再現性確認や、ノイズピーク判定も可能です。

平板セルへの応用
平板セルは、箱状の石英セルの上面に、平板試料を密着させて一体化できる構造になっています。セルの深さ方向の各レベルでモニタ－粒子の見かけの電気泳動移動度を実測し、得られた電気浸透プロファイルから固体界面における電気浸透流の速度が解析され、平板試料表面のゼータ電位が求められます。

濃厚系試料のゼータ電位測定原理
光が透過しにくい濃厚試料や有色試料については多重散乱や吸収などの影響によりELSシリーズでは測定が困難でした。
現在、ELSZシリーズの標準セルは希薄系から濃厚系まで幅広く測定することが出来るようになりました。さらに高濃度の試料については、FST法*を採用した濃厚系セルにてゼータ電位測定が可能となりました

分子量測定原理：静的光散乱法（光子相関法）
静的光散乱法は、簡便に絶対分子量を測定する手法として知られています。
測定原理は、溶液中の分子に光を照射し、得られる散乱光の絶対値から分子量を求めています。即ち、大きな分子からは強い散乱光が、小さな分子からは弱い散乱光が得られる現象を利用しています。
実際には濃度によっても得られる散乱光強度は異なるため、数点の異なる濃度の溶液の散乱強度を実測し、次式に基づいて横軸に濃度を、縦軸に散乱強度の逆数に相当するKc／R（θ）をプロットします。これをDebyeプロットと呼びます。
濃度ゼロへ外挿した切片（c=0）の逆数から分子量Mwを、初期勾配より第二ビリアル係数A2が求められます。

分子量が大きな分子は、散乱強度に角度依存性が現れるため、異なる散乱角度（θ）での散乱強度を測定することで分子量の測定精度向上と、分子の広がりの指標となる慣性半径の情報が得られます。
角度固定で測定する際は、推定される慣性半径を入力することで角度依存測定に相当する補正をおこない、分子量の測定精度を向上させることができます。

第二ビリアル係数とは
溶媒中での分子間の斥力と引力の度合いを示し、溶媒の分子に対する親和性や結晶化の目安となります。
A 2 が正の場合、親和性が高い良溶媒で、分子間の斥力が強いため、安定に存在しやすくなります。 A 2 が負の場合、親和性は低い貧溶媒で、分子間の引力が強いため、凝集が起こりやすくなります。 A 2 ＝0の場合の溶媒をシータ溶媒、また温度をシータ温度と呼び、斥力と引力が釣り合った状態で、結晶化が起こりやすくなります。仕　様
測定原理粒子径動的光散乱法（光子相関法）ゼータ電位電気泳動光散乱法（レーザードップラー法）分子量静的光散乱法光学系粒子径ホモダイン光学系ゼータ電位ヘテロダイン光学系分子量ホモダイン光学系光源高出力半導体レーザー検出器高感度APD セルゼータ電位用：標準セル、微量ディスポセルもしくは濃厚系セル粒子径/分子量用：角セル温度 0 ～ 90℃ （グラジエント機能あり）電源 100V ± 10% 250VA 寸法（WDH） 380（W)×600（D)×210（H) 重量約 22 kg

日系综合工业品 MRO类

大塚电子 OTSUKA 分子量测量系统 ELSZ-2000ZS