帝通 TEITSU UDM-570DL超音波膜厚计 UDM-570DL
我司,专业日本工业品源头供应商。.. UDM-570DL超音波膜厚计,TEITSU帝通电子研究所,. 特征: ●测量条件的设定简单 微处理机内置操作触摸按键,只需按下测量条件的设定很简单。 被测物的音速设定及,厚度计的キャリプレーション10键可以做,电脑上制作的测量地图UDM - 570 DL本体传输。 ●数据处理 附属数据处理软件,UDM - 570 DL和电脑数据的交换容易进行。 ●最大6
我司,专业日本工业品源头供应商。.. UDM-570DL超音波膜厚计,TEITSU帝通电子研究所,. 特征: ●测量条件的设定简单 微处理机内置操作触摸按键,只需按下测量条件的设定很简单。 被测物的音速设定及,厚度计的キャリプレーション10键可以做,电脑上制作的测量地图UDM - 570 DL本体传输。 ●数据处理 附属数据处理软件,UDM - 570 DL和电脑数据的交换容易进行。 ●最大6