可泰 COTEC 膜厚计 KQ-85-BACI
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KQ-85-BACI プレミアム
KQ-85-PREM 測定モード 素地の自動選択(素地種を検知してFeモード/Nモードを自動切替) ● ● 個別測定(プローブ押し当てるごとに1回測定) ● ● 連続(スキャン)測定(プローブを押し当てている間は連続測定) ― ● リミット 上限下限設定 ● ● 平均 平均表示 ― ● メモリー 記憶測定点数 100点まで 13,000点まで バッチ数 1 200
≦2,000点/バッチ バッチ名入力 ― ● バッチごと上限下限設定 ― ● 統計機能 平均/標準偏差/最大値/最小値 ● ● データ管理ソフト ▲オプション ●付属 ユーザー校正 ユーザー校正数(1点校正/2点校正) 1 100 ゼロ点平均化 ― ● 画面表示 単位(µm/mil切替え) ● ● 表示分解能選択(粗い/標準/細かい) ― ● バックライドオートオフ機能 ● ● フリップディスプレイ(標準/スイッチ切替) ● ● 使用環境 使用時環境温度(結露無きこと) 0～50℃ 0～50℃ 保管場所温度(結露無きこと) ※直射日光・車内ダッシュボードなど不可 -10～60℃ -10～61℃ 防水性能 ― ― 電源 単3(AA)アルカリ乾電池×2本 KQ-85-F KQ-85-F5 KQ-85-N KQ-85-FN KQ-85-F5N 対象素地金属 鉄素地用 鉄素地用 非磁性金属 鉄/非磁性両用 鉄/非磁性両用 測定方法 磁力(磁束) 磁力(磁束) 渦電流 磁力/渦電流自動切替 磁力/渦電流自動切替 測定範囲 0～2,000µm 0～5,000µm 0～2,000µm Fe:０～2,000µm
NFe:0～2,000µm Fe:０～5,000µm
NFe:0～2,000µm 測定間隔 1.5秒 測定精度 ±1µm＋読取値2％ 0～2,000µm時
±1µm＋読取値2％
2,000µm～時
±読取値3.5％ ±1µm＋読取値2％ ±1µm＋読取値2％ 0～2,000µm時
±1µm＋読取値2％
2,000µm～時
±読取値3.5％ 最小測定可能面 直径φ20mm 最小測定可能半径
(曲面に対して) 凸面：曲率半径5mm
凹面：曲率半径5mm 素地最小厚み 0.2mm 0.2mm 0.05mm Fe:0.2mm
NFe:0.05mm Fe:0.2mm
Nfe:0.05mm 使用時環境温度 0～50℃(結露無きこと) 保管場所温度 -10～60℃(結露無きこと) 大きさ L60×W26×H22mm
ケーブルモジュールを除く 重さ(電池込) 12g KQ-85-FT 対象素地金属 鉄素地用 測定方法 電磁誘導 測定範囲 0～500µm 測定間隔 1.6秒 再現精度 ±0.1µm＋読取値0.8％ 測定精度 ±0.3µm＋読取値2％ 最小測定可能面 直径φ7mm 最小測定可能半径
(曲面に対して) 凸面：曲率半径4mm
凹面：曲率半径5mm 最小素地厚み 0.4mm 使用環境温度 0～50℃(結露無きこと) 保管場所温度 -10～60℃(結露無きこと) 大きさ L120×W12×H12mm
(接続ケーブルを除く) 重さ 95g