凯特 KETT LZ-200J双型膜厚计，牌膜厚计 LZ-200J
我司，专业日本工业品源头供应商。.. LZ-200J双型膜厚计，日本凯特KETT牌膜厚计 電磁式と渦電流式の両機能を備え、しかもプリン タを内蔵したポータブルタイプの膜厚計です。 磁性金属上および非磁性金属上のさまざまな被 膜厚測定にすばやく対応します。ボタンひとつ で平均値・標準偏差・最大値・最小値が求められる 統計計算機能、キャリブレーション・メモリ機能、 リミット設定機能などを装備してい
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LZ-200J双型膜厚计，日本凯特KETT牌膜厚计
電磁式と渦電流式の両機能を備え、しかもプリン タを内蔵したポータブルタイプの膜厚計です。 磁性金属上および非磁性金属上のさまざまな被 膜厚測定にすばやく対応します。ボタンひとつ で平均値・標準偏差・最大値・最小値が求められる 統計計算機能、キャリブレーション・メモリ機能、 リミット設定機能などを装備しています。
●仕様 LZ-200J 測定方式 電磁誘導式/渦電流式兼用 測定対象 磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜 測定範囲 電磁式：0～1500μmまたは60.00mils
渦電流式：0～800μmまたは32.00mils 測定精度 電磁式：15μm未満：±0.3μm、15μm以上：±2％
渦電流式：50μm未満：±1μm、50μm以上：±2％ 分解能 100μm未満：0.1μm、100μm以上：1.0μm 適合規格 電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376
渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5、ASTM E 376 統計機能 測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック番号 プローブ 一点接触定圧式（LEP-J、LHP-J） 表示方法 デジタル（LCD、表示最小桁0.1μm） 外部出力 RS-232Cインターフェース（転送速度2400bps） 電源 AC100V（50/60Hz）または
電池1.5V（単3アルカリ） 本体部×6、プリンタ部×4 寸法・質量 120（W）×250（D）×55（H）mm、1.0kg 付属品 標準板、鉄素地、アルミ素地、標準板ケース、電池1.5V（単3アルカリ）、ACアダプタ、 プローブアダプタ、プリンタ用紙、キャリングケース オプション L字型プローブ（LEP-21L）、RS-232C接続ケーブル、データ管理ソフト「データロガーKLD-01」、「McWAVE Lite」、「McWAVE Standard」、「McWAVE Professional、「MultiProp」
（McWAVE Lite、McWAVE Standard、McWAVE Professional、MultiPropはCEC社の商標です。）