日本源头报价 ATAGO 爱拓折射仪 DR-M2/DR-M4/DR-M2 1550/DR-M4 1550 测量固体、薄膜

2024-11-11 18:09:02 admin

易于在任意波长下测量固体、薄膜、液晶和液体的折射率。

多波长阿贝折射仪

DR-M系列

DR-M2

在450～1100nm内改变波长，可以测量折射率·阿贝数（vd，ve）。

DR-M4

在450～1100nm内改变波长，可以测量折射率·阿贝数（vd，ve）。

DR-M2/1550

是能测量到DR-M2的1550nm的模型。

DR-M4/1550

是能测量到DR-M4的1550nm的模型。

多波长阿贝折射仪DR-M2

特点

可变更波长1100nm域对应模型

本仪器可在450～1100nm内改变波长，测量折射率·阿贝数（νd，νe）。

如果附带光源、干涉滤镜，将样品放置在棱镜面上，使折射视场的边界线与交叉线的交点对齐，则测量值将被数字显示。

另外，也可以与打印机（可选）连接。

规格

测量范围折射率：1.3278～1.7379（450nm）

折射率：1.3000～1.7100（589nm）

折射率：1.2912～1.7011（680nm）

折射率：1.2743～1.6840（1100 nm）

测量精度折射率：±0.0002

（附带的测试件500～650nm）

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